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國(guó)創(chuàng)常用的檢波器分類

  檢波器是檢出波動(dòng)信號(hào)中某種有用信息的裝置。用于識(shí)別波、振蕩或信號(hào)存在或變化的器件。檢波器通常用來(lái)提取所攜帶的信息。檢波器分為包絡(luò)檢波器和同步檢波器。國(guó)創(chuàng)在此分享常用的檢波器分類!

  肖特基管檢波器:肖特基管不僅可應(yīng)用于直接檢波,還可作為非線性器件用于超外差接收機(jī)。應(yīng)用在直接檢波時(shí),具有高效率、低成本以及高集成度等優(yōu)點(diǎn);應(yīng)用于混頻接收機(jī)系統(tǒng)中,可以獲得高分辨率和高靈敏度。

  熱電探測(cè)器:熱電探測(cè)器是利用光輻射與物質(zhì)之間的熱敏效應(yīng)這一特性而設(shè)計(jì)的器件,曾被廣泛用于遠(yuǎn)紅外線探測(cè),現(xiàn)已逐步用于太赫茲領(lǐng)域。

  半導(dǎo)體測(cè)輻射熱計(jì):測(cè)輻射熱計(jì)一般采用高靈敏度的熱敏電阻對(duì)照射在探測(cè)器的熱輻射所產(chǎn)生的相應(yīng)電阻值變化進(jìn)行檢測(cè),以獲得太赫茲波的功率,一般可探測(cè)的頻率范圍為幾十個(gè)GHz到幾十個(gè)THz.經(jīng)典的測(cè)輻射熱計(jì)含有重?fù)诫s半導(dǎo)體。

  半導(dǎo)體熱電子測(cè)輻射熱計(jì):通過(guò)半導(dǎo)體或超導(dǎo)體中的電子與晶格相互作用來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)輻射熱計(jì)的高熱傳導(dǎo)性和小熱容量,從而使之適合于太赫茲領(lǐng)域.在半導(dǎo)體熱電子測(cè)輻射熱計(jì)中,其半導(dǎo)體中的非平衡態(tài)電子被稱為熱電子。不同于一般的測(cè)輻射熱計(jì)先讓晶格吸收功率再將能量傳輸給自由載流子,在這種測(cè)輻射熱計(jì)中,入射的輻射能量被自由載流子直接吸收,所以晶格溫度保持不變。

  超導(dǎo)熱電子測(cè)輻射熱計(jì):為了進(jìn)一步提高半導(dǎo)體熱電子測(cè)輻射熱計(jì)的靈敏度,該檢波器是通過(guò)引入介質(zhì)基片上的NbN、NbTiN或Nb等構(gòu)成的超導(dǎo)微橋而實(shí)現(xiàn).按照熱電子測(cè)輻射熱計(jì)可以分為兩類:一種是聲子冷卻熱電子測(cè)輻射熱計(jì);另一種是擴(kuò)散冷卻熱電子測(cè)輻射熱計(jì)。

  場(chǎng)效應(yīng)晶體管檢波器:CMOS工藝由于其較低的成本和高集成度,受到國(guó)內(nèi)外研究人員的廣泛關(guān)注.近些年,基于CMOS工藝的太赫茲?rùn)z波技術(shù)取得了顯著進(jìn)展.早期的一些研究中已將場(chǎng)效應(yīng)晶體管應(yīng)用于太赫茲?rùn)z波中,而近期的一些研究中已逐步發(fā)展到檢波陣列并且集成在THzCMOS單芯片中。

  超導(dǎo)轉(zhuǎn)變邊緣傳感器(TES):超導(dǎo)轉(zhuǎn)變邊緣傳感器利用電流加熱超導(dǎo)薄膜到超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度,是一種超導(dǎo)非相干檢波技術(shù).當(dāng)檢測(cè)太赫茲輻射時(shí),超導(dǎo)薄膜可以吸收太赫茲光子,使溫度上升,進(jìn)而使電阻明顯升高.這將減少流過(guò)超導(dǎo)薄膜的電流,進(jìn)而降低溫度,逐步回到原來(lái)穩(wěn)定的狀態(tài).這個(gè)過(guò)程稱為電-熱反饋,在這個(gè)過(guò)程中可利用高靈敏的電流計(jì)讀出電流變化.目前最大規(guī)模的TES檢測(cè)器陣列應(yīng)用是安裝在美國(guó)的JCMT望遠(yuǎn)鏡上的SCUBA2探測(cè)器陣列。

  上述就是國(guó)創(chuàng)所講解的常用的檢波器分類,希望看完能夠?qū)δ兴鶐椭?,如果您想要了解更多關(guān)于檢波器的相關(guān)信息的話,歡迎在線咨詢客服或是撥打本公司服務(wù)熱線029-85251919進(jìn)行咨詢,我們將竭誠(chéng)為您提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)!
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